METTLER梅特勒分析天平XS105DU

技术指标

量程 双量程

可读性 0.01/0.1mg

更大称量值 41/120g

更大称量值重复性(s) 0.1mg

10g重复性(s) 0.02mg

线性 ±0.2mg

1/2更大称量1）四角误差 0.3mg

灵敏度漂移 0.0004%

灵敏度温度漂移2） 0.00015%/℃

灵敏度稳定性3） 0.0002%/a

典型称量时间4） 6s

接口更新速率 23/s

防风罩有效高度(mm) 235

秤盘尺寸(mm) 78×73

天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322

1）按照OIML76标准 2）温度范围10 …30℃ 3）灵敏度漂洗/年（天平首次使用后），激活FACT全自动校准技术 4）包括样品处理时间设置

XS超越系列专业型分析天平

超越系列分析天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求，确保更高的生产效率并使操作更安全。

* 采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果

* 全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性

* 变量程专利设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求

* 革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果

* 易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量

* 触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置

* 可移动的显示控制终端，方便天平使用

* 完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁

* 内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备

* 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求

* 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序

* e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新